- AFMプローブ
ナノスケールの表面観察を支えるAFMプローブ
AFMプローブ・カンチレバー
AITECH SOLUTIONでは、AFM(原子間力顕微鏡)による表面形状・表面粗さ・ナノ構造などの測定に使用するAFMプローブ/カンチレバーを取り扱っています。測定対象や使用環境に合わせて選択できる製品をラインアップ。一般的な表面観察から、液中測定、電気特性評価まで、用途に適したAFMプローブをご提案します。
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ナノスケールの表面観察を支えるAFMプローブ
AITECH SOLUTIONでは、AFM(原子間力顕微鏡)による表面形状・表面粗さ・ナノ構造などの測定に使用するAFMプローブ/カンチレバーを取り扱っています。測定対象や使用環境に合わせて選択できる製品をラインアップ。一般的な表面観察から、液中測定、電気特性評価まで、用途に適したAFMプローブをご提案します。
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PROBLEM

これまで使用していたAFMプローブが生産終了となり、代替となるプローブが見つからない。現在の測定条件をなるべく変えずに使用できる製品を探していませんか?

共振周波数、バネ定数、探針形状、ティップ半径、コーティングなど、AFMプローブにはさまざまな仕様があります。測定対象や測定モードに適したプローブ選定でお困りではありませんか?

一般的な表面形状測定だけでなく、液中環境でのAFM測定や、試料の電気特性評価に適したAFM探針を探していませんか?
SOLUTION
測定用途に応じたラインアップと、現在使用中のプローブ仕様をもとにした製品選定で、AFM測定をサポートします。
一般的なAFM測定向けのASモデル、液中測定向けのGSモデル、電気特性評価向けのAPモデルをラインアップ。
共振周波数70~1125 kHz、バネ定数2~85 N/mのラインアップから、測定対象や条件に応じた製品を選択できます。
安定して尖鋭な探針と、取り扱いやすさを考慮したチップ構造を採用。AFM測定に必要なプローブ性能と使いやすさを両立した製品を取り揃えています。
現在使用しているプローブの型式や仕様、測定条件をもとに、候補となるAFMプローブをご案内します。共振周波数やバネ定数だけでなく、カンチレバー寸法、探針仕様、コーティングなども確認しながら選定します。
PRODUCTS
測定条件に応じて、共振周波数・バネ定数・コーティングの異なるAFMプローブから選択できます。
REPLACEMENT
これまで使用していたAFMプローブが生産終了となり、代替品をお探しの場合もご相談ください。
現在ご使用中の型式、共振周波数、バネ定数、カンチレバー寸法、探針形状、コーティング、測定環境などを確認し、用途に合った置き換え候補をご提案します。
オリンパス社のOMCLシリーズをご使用の場合も、現在使用している型式や測定条件をお知らせください。
仕様を確認したうえで、候補となるAFMプローブをご案内します。
※「オリンパス」「OMCL」等の名称は、既存製品との比較・識別を目的として記載しています。当社取扱製品はオリンパス社製品ではありません。
FLOW
STEP
01
現在使用しているAFMプローブの型式、AFM装置、測定対象、測定モード、測定環境などをお知らせください。
現在使用中のプローブ型式のみでもご相談いただけます。
STEP
02
共振周波数、バネ定数、探針仕様、コーティングなどを確認し、用途に適したAFMプローブを選定します。
STEP
03
候補製品の仕様をご確認いただき、お見積や納期をご案内します。
STEP
04
製品仕様をご確認いただいた後、ご注文いただきます。
納期に応じて、納品いたします。
FAQ
Q.
A.
現在使用しているAFMプローブの型式や、測定対象、測定モード、測定環境などをお知らせください。
共振周波数、バネ定数、探針仕様、コーティングなどを確認し、用途に適した製品をご提案します。
Q.
A.
はい。現在使用しているOMCLシリーズの型式や測定条件をお知らせください。
仕様を確認したうえで、候補となるAFMプローブをご案内します。
Q.
A.
12個入りと100個入りのパッケージをラインアップしています。
Q.
A.
はい。標準ラインアップ以外のAFMプローブについても、新規製品・カスタム仕様をご相談いただけます。
お見積りのご相談から、技術的な実現可否の確認まで、
貴社のチームの一員として誠実に対応いたします。
お電話でのお問い合わせ
03-5937-8866 (平日9時〜18時)
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03-5937-8566 (24時間受付)
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